ГЛАВНАЯ — ПЕРОВСКИТЫ

НАПРАВЛЕНИЕ · ПЕЧАТНЫЕ ТАНДЕМЫ

ПЕРОВСКИТ-КРЕМНИЕВЫЕ ТАНДЕМЫ

ERA GROUP × ИФХЭ РАН

Перовскит-кремниевый тандемный солнечный элемент

Перовскит-кремниевый тандем — тонкоплёночная архитектура элемента

01 ·

ПРЕДМЕТ

Технологии тандемных солнечных элементов «перовскит на текстурированном кремнии (HJT)»: верхний перовскитный элемент на текстурированном гетеропереходном кремниевом нижнем элементе.

Схема слоёв тандемного солнечного элемента
ПЕРОВСКИТНЫЙ ВЕРХНИЙ ЭЛЕМЕНТ
ДЫРОЧНО-ТРАНСПОРТНЫЙ СЛОЙ
ТЕКСТУРИРОВАННЫЙ КРЕМНИЙ (HJT)
02 ·

КЛЮЧЕВЫЕ ТРЕКИ

T-1

Электроосаждённый PEDOT–фуллеренол

Бессольвентный дырочно-транспортный слой с плотной морфологией — альтернатива SAM на текстурированном HJT. Совместим со slot-die.

T-2

Супрамолекулярный буфер Sn/Ge

Выравнивание уровней и подавление реакций на 2T-интерфейсе между верхним и нижним элементами.

T-3

Многомеханизмный прогноз T80

In-situ EIS разделяет каналы деградации вместо одно-Ea экстраполяции Аррениуса. Привязка к ISOS-L2/D3.

T-4

Инкапсуляция PMHS/PDMS

Двухслойная полимерная защита, показанная при влажностном стрессе 80% RH (Baeva et al., 2023).

МЕТОДОЛОГИЯ T80

03 ·

IN-SITU EIS

Одно-Ea T80 систематически врёт, когда в перовските одновременно идут несколько процессов. In-situ EIS снимает спектр импеданса во время стрессового старения и раскладывает деградацию на каналы, у каждого свой τ.

Почему Аррениус не работает

Экстраполяция T80 = f(exp(−Ea/kT)) предполагает один доминирующий механизм. В 2T-тандеме на текстурированном HJT параллельно идут миграция ионов, рекомбинация на интерфейсе верхнего элемента, дрейф контакта и коррозия электрода. Лабораторное «T80 > 20 000 ч» с одной Ea — методологический риск для пилотной сертификации.

Найквист in-situ EIS: дуги Rs и Rrec и низкочастотный ионный хвост

Протокол

01
Стресс

Прибор стареет по ISOS-L2 (засветка) и ISOS-D3 (влажное тепло). EIS снимается во время стресса, не после.

02
Спектр

1 МГц → 10 мГц, смещение Voc или MPP. Высокая частота — Rs, средняя — интерфейс, низкая — ионы.

03
Схема

Rs — Rrec∥CPE — Rion(+W). Каждый элемент — дуга Найквиста, каждый — отдельный τ.

04
T80

Траектории элементов во времени дают суперпозицию механизмов. Прогноз привязан к ISOS и IEC 62941.

Каналы, видимые в спектре

ω → ∞
Rs · контакт

Последовательное сопротивление и коррозия электрода. Рост Rs убивает fill factor раньше, чем перовскит.

кГц–Гц
Rrec · 2T / HTL

Рекомбинация на интерфейсе верхний элемент / дырочный транспорт. Главный убийца выхода после МВт-пилота.

Гц–мГц
Rion · ионы

Миграция галогенидов и гистерезис. Низкочастотный хвост (Warburg/Gerischer) растёт до падения PCE.

τ(T)
Раздельные Ea

У каждого канала своя энергия активации. Их нельзя сложить в одну аррениусовскую прямую.

Два способа сказать «T80»

ISOS-L2 · ISOS-D3 · IEC 62941

Классика

Одна Ea, ускоренное старение, экстраполяция. Красивое число, которое прячет, какой механизм убьёт модуль в поле.

In-situ EIS

Несколько τ, спектр под нагрузкой, консервативная граница для сертификации. Прямо адресует деградацию 2T-интерфейса.

Методология направления — не отчёт промышленной линии. Полные протоколы и сырые спектры — по NDA.

04 ·

НАУЧНАЯ БАЗА — ИФХЭ РАН

Институт физической химии и электрохимии им. А. Н. Фрумкина РАН — преемственность с 1929 года, школы Ребиндера и Дерягина. Полная цепочка «синтез — плёнка — прибор — характеризация».

Ядро направления фотоэлектрических материалов и приборов — группа Тамеева. Публикации в Nano Energy, Scientific Reports, Applied Physics Letters, J. Mater. Chem. C и других журналах.

1929
преемственность с
95+
лет научной школы
12
публичных публикаций направления
05 ·

СТОРОНЫ НАПРАВЛЕНИЯ

ERA GROUP
埃拉集团
бизнес и инженеризация; эксклюзивный индустриальный партнёр ИФХЭ РАН
ДАЛЕЕ
ПРОМЫШЛЕННЫЕ СЕНСОРЫ